Научный совет РАН по электронной микроскопии сообщает, что со 2-го по 7 июня 2014 года в городе Черноголовке будет проведена XХV-я Российская конференция по электронной микроскопии (РКЭМ-2014) с участием зарубежных ученых, а также фирм-производителей оборудования для микроскопии.
Конференция посвящена вопросам развития и применения методов электронной и зондовой микроскопии в физике твердого тела, материаловедении, химии, геологии, биологии, медицине, нанотехнологии и в индустрии.
Научная программа конференции предусматривает следующие разделы:
- Просвечивающая электронная микроскопия (аналитическая, низковольтная, растровая).
- Электронная микроскопия в исследовании новых материалов, включая наноструктуры.
- Электронография и методы электронной дифракции.
- Электронная оптика и новые приборы, обработка изображений.
- Растровая электронная микроскопия.
- Сканирующая зондовая микроскопия.
- Электронная и ионная литография.
- Применение методов микроскопии в физике, материаловедении, микро- и наноэлектронике.
- Применение методов микроскопии в химии и геологии.
- Применение электронной, зондовой и конфокальной сканирующей микроскопии в биологии и медицине.
Тезисы докладов и карточка-заявка подаются в электронном виде не позднее 20 января 2014 года.
